JB/T 9588.3-1999 火花塞瓷绝缘体试验方法 体积密度试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-04 20:54:17 浏览:9017
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 火花塞瓷绝缘体试验方法 体积密度试验方法 |
英文名称: | Test method for ceramic insulators of spark plug Test method for volume density |
中标分类: |
车辆 >>
车用电子、电气设备与仪表 >>
点火装置 |
替代情况: | ZB T37005.3-1989;标准的归口单位改变,由汽车行业主管,该标准在机械行业已无相应标准化机构维护,且与QC/T 434-1999 重复。建议废止。 |
发布部门: | 国家机械工业局 |
发布日期: | 1999-08-06 |
实施日期: | 2000-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 2010-01-20 |
提出单位: | 全国汽车标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国汽车标委会火花塞分会 |
起草单位: | 南京火花塞研究所 |
起草人: | 高风岗、钱金媛、陈勇、李国美等 |
出版社: | 机械工业出版社 |
出版日期: | 2000-01-01 |
页数: | 2页 |
批文号: | 国机管[1999]438 |
适用范围
本标准规定了火花塞瓷绝缘体体积密度的测定方法。
前言
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所属分类: 车辆 车用电子 电气设备与仪表 点火装置
【英文标准名称】:Informationtechnology-Datainterchangeon8mmwidemagnetictapecartridge-Helicalscanrecording-DA-2format
【原文标准名称】:信息技术在8mm宽盒式磁带上的数据交换螺旋扫描记录DA-2格式
【标准号】:ISO/IEC15757-1998
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1998-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/IECJTC1
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据记录;磁记录;数据存储;磁带;尺寸;物理性能;定义;磁道格式;数据处理;信息交换;螺旋扫描记录(法);信息技术;磁性能;互换性
【英文主题词】:
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiesthephysicalandmagneticcharacteristicsofa8mmwidemagnetictapecartridgetoenablephysicalinterchangeofsuchcartridgesbetweendrives.Italsospecifiesthequalityoftherecordedsignals,therecordingmethodandtherecordedformat,therebyallowingdatainterchangebetweendrivesbymeansofsuchmagnetictapecartridges.Informationinterchangebetweensystemsalsorequires,ataminimum,agreementbetweentheinterchangepartiesupontheinterchangecode(s)andthespecificationsofthestructureandlabellingoftheinformationontheinterchangedcartridge.
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:35_220_23
【页数】:74P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范 |
英文名称: | Silicon-based MEMS fabrication technology—Specification for KOH etch process |
中标分类: |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
微电路综合 |
ICS分类: |
电子学 >>
集成电路、微电子学
|
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2012-05-11 |
实施日期: | 2012-12-01 |
首发日期: | 2012-05-11 |
作废日期: | |
主管部门: | 全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336) |
提出单位: | 全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336) |
归口单位: | 全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336) |
起草单位: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所、重庆大学、东南大学、中国电子科技集团第四十九研究所、中机生产力促进中心 |
起草人: | 夏伟锋、熊斌、冯飞、戈肖鸿、周再发、李玉玲、贺学锋、田雷、刘伟 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2012-12-01 |
页数: | 12页 |
书号: | 155066·1-45572 |
适用范围
本标准规定了采用氢氧化钾腐蚀工艺进行MEMS器件加工时应遵循的工艺要求。
本标准适用于氢氧化钾腐蚀工艺和管理。
前言
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引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学