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ASTM D3741-2000(2004) 含卤化有机溶剂的掺和物外观的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 05:43:33  浏览:9396   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodsforAppearanceofAdmixturesContainingHalogenatedOrganicSolvents
【原文标准名称】:含卤化有机溶剂的掺和物外观的标准试验方法
【标准号】:ASTMD3741-2000(2004)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D26.04
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:化合物;试验;溶剂;药液;外观;有机的
【英文主题词】:appearance;chlorinatedorganicsolvents;organicsolvents;solvents
【摘要】:Thesetestmethodsareusefulfordeterminingtheappearanceofhalogenatedhydrocarbonsandtheiradmixtures.1.1Thistestmethodcoversthevisualdeterminationofthephysicalappearanceofadmixturescontaininghalogenatedhydrocarbons.Itisaqualitativetestmethod.1.2Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:G16
【国际标准分类号】:71_080_20
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:


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【英文标准名称】:Blankdetailspecification:Fixedpowerresistors(AssessmentlevelH);GermanversionEN140203:1996
【原文标准名称】:空白详细规范.大功率固定电阻(评定等级H)
【标准号】:DINEN140203-1997
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1997-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;固定电阻器;评定等级;布置;详细规范;设计;电阻器;空白格式;电气工程
【英文主题词】:Assessmentlevel;Blankforms;Contents;Design;Detailspecification;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Fixedresistors;Highlystressable;Layout;Resistors
【摘要】:Thedocumentisasupplementarydocumentofthesectionalspecificationforfixedpowerresisitors(AssessmentlevelH)andcontainsrequirementsforstyleandlayoutandminimumcontentofthedetailspecification.
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:13P;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringResistivityofSiliconWafersWithanIn-LineFour-PointProbe
【原文标准名称】:用在线四点探针法测量硅片电阻率的标准试验方法
【标准号】:ASTMF84-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;电子工程;耐力;硅;垫圈
【英文主题词】:four-pointprobe;four-probe;resistivity;semiconductor;silicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoversthemeasurementoftheresistivityofsiliconwaferswithain-linefour-pointprobe.Theresistivityofasiliconcrystalisanimportantmaterialsaccept
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:14P.;A4
【正文语种】: